光學膜厚儀探針根據設定的掃描長度、速度和接觸力在樣品表面移動，隨著樣品表面的變化，鏈接在探針上的線性差動變壓器接收處理變化的電信號。將變化的電信號轉換成數字信號后，就能重現樣品表面的起伏變化。
光學膜厚儀的產品特性：
1.滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試。
2.打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方。
3.采用Si-pin探測器，電致冷非液氮制冷，體積小、數據分析準確且維護成本低。
4.采用自主研發的SES信號處理系統，有效提高測量的靈敏度。
5.一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，更人性化。
6.多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產品級。
7.先進的一體化散熱設計，使整機散熱性能得到極大提高，保證了核心部件的運行安全。
8.*的機芯溫控技術，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。
9.多重儀器配件保護系統，并可通過軟件進行全程監控,讓儀器工作更穩定、更安全。
10.電鍍層測試軟件，標準視窗設計，界面友好，操作方便。
11.本機采用USB2.0接口，有效地保證了數據準確高速有效的傳輸。
光學膜厚儀的使用注意事項：
1、放置產品和聚焦時勿觸碰到鏡頭，且在移動測量臺面當儀器報警時，說明所移動方向的位移已到極限，此時應立即朝反方向移動。
2、發現有問題及需建測量程序時，應立即通知道廠家解決。
3、工作室應該保持室內溫度在18～30度為宜，相對濕度在70%以下為佳，保持儀器及工作臺面的清潔。
4、勿頻繁開頭儀器，否則電流容易沖擊硬件設施，另雷電天氣就關閉膜厚測試儀。
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